您好,歡迎來到秋山科技(東莞)有限公司!
產品型號:
所屬分類:探傷儀
產品時間:2024-09-08
簡要描述:日本microsq用于磁粉探傷儀LED黑光UVT300它有助于用戶靈活的設計,例如根據(jù)檢查目標創(chuàng)建具有多個單元的照射區(qū)域。它也被主要的國內汽車用戶用于各種零件檢查。
日本microsq用于磁粉探傷儀LED黑光UVT300
它有助于用戶靈活的設計,例如根據(jù)檢查目標創(chuàng)建具有多個單元的照射區(qū)域。它也被主要的國內汽車用戶用于各種零件檢查。
WD380毫米
照明分布直徑300毫米40004000500040004000
WD600毫米
照明分布直徑300毫米20002000200020002000