熱電特性評(píng)價(jià)裝置 ZEM-3系列的測(cè)量原理分析

這是一種同時(shí)測(cè)量熱電材料的熱電率（塞貝克系數(shù)）和電導(dǎo)率的裝置。我們準(zhǔn)備了溫度范圍為-80°C至1000°C的測(cè)量?jī)x器，操作簡(jiǎn)單。

用途

半導(dǎo)體，陶瓷，金屬等廣泛材料的熱電特性評(píng)價(jià)。

樣品以圓柱形或方柱的形式垂直放置在加熱爐中的上塊和下塊之間。通過下塊中的加熱器給樣品施加溫度梯度，同時(shí)將樣品加熱并保持在規(guī)定的溫度。塞貝克系數(shù)的測(cè)量是通過測(cè)量壓在樣品側(cè)面的熱電偶上的上部和下部T1，T2與熱電偶一側(cè)的同一股線之間的熱電動(dòng)勢(shì)dE來確定的。
電阻測(cè)量采用直流四端法，通過在樣品兩端施加恒定電流I，測(cè)量熱電偶同一元件線之間的電壓降dV，并去除引線之間的熱電動(dòng)勢(shì)來確定。

P型Si80Ge20燒結(jié)體的測(cè)量實(shí)例

特長(zhǎng)

• 采用溫度可控性優(yōu)異的紅外線金像加熱爐和溫差控制用微加熱器

• 測(cè)量由計(jì)算機(jī)控制，可以在規(guī)定溫度下對(duì)各溫差進(jìn)行測(cè)量，也可以消除暗電動(dòng)勢(shì)等自動(dòng)測(cè)量

• 標(biāo)配自動(dòng)歐姆接觸檢查（V-I圖）

• 可選附件可用于測(cè)量薄膜

• 可定制為高電阻